电子元器件严重失效率电子元器件严重失效率的原因兴城

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1、文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。2本标准适用于其寿命能合理地认为是服从指数分布，在本质上是同一设计、建立了可靠性质。量管理和连续生产的产品。对于预期寿命能合理地认为是服从指数分布的单批产品的失效率试验也可适用。3名词解释:(1)失效率:本标准所规定的失效率，是指产品标准规定的额定条件下的失效率。

2、失效率试验:为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验称为失效率试验。为定级试验、维持试验、升级试验三种。定级试验:为首次确定产品的失效率等级而作的试验，或在某一失效率等级的维持和升级。试脸失败后，对产品重新确定其失效率等级而进行的试验称为定级试验。维持试验:为证明产品的失效率等级仍不低于定级试验或升级试验后所确定的失效率等级。

电子元器件严重失效率相关拓展

电子元器件严重失效率的原因

而元器件应用不当形成的失效原因主要有以下几个方面。设计不当可分为电路设计不当、结构设计不当及工艺设计不当等。无论哪种设计不当,都会使元器件在应用时受损而失效。设汁不当造成元器件的失效率较高，且会反复出现。某整机上的CMOS集成电路，在低温条件下工作失常，而在常温下又恢复正常工作。造成这种失效的原因足CMOS电路在低温下工作时，其延迟时间缩短了将近40％，使电路的逻辑关系发生错误。

这说明在电路设计时没有。考虑CMOS电路的这—特点.。元器件选型不当也是电子设备经常发生失效的原因之一、主要是设汁人员对元器件参数及性能了解不全面或考虑不周，致使设计个所选用的元器件无法满足电路要求。元器件选型不当会造成在使用过程中大量的元器件失效。

电子元器件的失效率

而元器件应用不当形成的失效原因主要有以下几个方面。设计不当可分为电路设计不当、结构设计不当及工艺设计不当等。无论哪种设计不当,都会使元器件在应用时受损而失效。设汁不当造成元器件的失效率较高，且会反复出现。某整机上的CMOS集成电路，在低温条件下工作失常，而在常温下又恢复正常工作。造成这种失效的原因足CMOS电路在低温下工作时，其延迟时间缩短了将近40％，使电路的逻辑关系发生错误。

这说明在电路设计时没有。考虑CMOS电路的这—特点.。元器件选型不当也是电子设备经常发生失效的原因之一、主要是设汁人员对元器件参数及性能了解不全面或考虑不周，致使设计个所选用的元器件无法满足电路要求。元器件选型不当会造成在使用过程中大量的元器件失效。

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